盤點光學膜厚測量儀的八個功能

　　光學膜厚測量儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大。

　　光學膜厚測量儀具有高性價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本?？梢赃M行材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析?？芍苯哟蛴』蛞绘I導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等有的時候我們會發現鍍層膜厚儀測量的數據不是很。遇到這個問題的時候就要先搞清楚究竟是什么原因造成設備不能夠正常使用，然后想辦法把這個問題給排除掉就可以了。

　　光學膜厚測量儀功能：

　　1、自動對焦功能。電鍍膜厚儀配備激光自動對焦功能，能夠對焦，提高測量效率。

　　2、電鍍膜厚儀具有焦點距離切換功能，適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量。

　　3、采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。

　　4、選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

　　5、電鍍膜厚儀支持多種語言的軟件系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語。

　　6、搭載樣品尺寸的兼容性可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品(機械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等。

　　7、多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正。

　　8、即時生成測量報告的便捷性。