產品詳情
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產品介紹：
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結果能被快速地導出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產品特點優勢：
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同步測量薄膜的反射率/穿透率，1s內獲得結果；
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簡單快速、易于使用的分析優點；
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設備具有完整標準配置，確保設備高度可靠；
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測量結果能被快速地導出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產品測量原理：
當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產品應用與膜層范例：
| 顯示技術 | 消費電子 | 派瑞林 | |
| 光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產品/電路板 |
| 介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
| 砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫療器械 |
| 微機電系統 | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產品參數：
| 波長范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素燈、 氘燈 |
| 厚度測量范圍： | 1nm-150μm | 測量精度： | 0.01nm |
| 光斑大小： | 6mm | 穩定性： | 0.05nm |
| 更多參數可聯系我們獲取 | |||
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀測量圖：
