HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀產品介紹：

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀能實現對未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的高精度測量。

顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的，這是離心分離法的關鍵特點。因此，一次測量就能得到寬范圍內的精度結果。HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀可提供兩種測量方法:密度梯度模式和均一模式"。

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀產品特點：

可捕捉到少量雜質顆粒或團聚體

  HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀因其高分辨率可以捕獲到少量的雜質顆粒。它能讓你在全粒徑分布范圍內獲得可靠的測量結果，包括含量少占比低的顆粒群的結果。

儀器在長時間測量后性能依然穩定

  樣品室和轉盤具有冷卻功能，可防止樣品在旋轉過程中溫度升高。通過保持溶劑的粘度恒定提升測量結果的可靠性。HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀非常安靜，操作也簡單安全。

堅固耐用易操作

  僅需將樣品注入樣品池

  比色皿式樣品池易清潔、易更換，減少樣品交叉污染的風險。

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀測量原理：

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀是?基于離心分離法，通過測量顆粒在離心力作用下的沉降速度來推導其粒徑大小，從而獲得粒徑分布信息。具體來說，CN-300心式納米粒度分析儀利用顆粒在離心力作用下的沉降速度與粒徑的關聯，通過精確測量沉降速度來推導顆粒的大小，進而獲得粒徑的詳盡分布?。

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀主要應用：

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀密度梯度模式與均一模式的差異：

1. 密度梯度模式

§ 樣品被注入密度梯度溶液中，顆粒的大小是通過計算顆粒到達檢測器所需的沉淀時間得到的。這種模式使您能夠高分辨率地測量非常少量的高濃度樣品。

2. 均一模式

§ 離心沉降發生在均勻的樣品體系中，粒徑分布是根據顆粒通過檢測區域的信息計算得到的。這種模式話合干測量低濃度樣品。

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀產品參數：

HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀測量案例：

高分辨率測量粒徑分布

下圖為離心粒度儀測量含有四種相同濃度的二氧化硅標準顆粒的混合樣品的結果，四種不同粒徑顆粒所占面積幾乎相同。因為顆粒按離心力分類，使用密度梯度模式測量可以獲得準確的粒度分布。

樣品：標準顆粒（取0.48um、0.73um、0.99um、1.57um標準樣品各一滴后進行混合）

進樣量：10uL

溶劑：蔗糖溶液

測量條件：密度梯度模式

少量高濃度樣品粒徑分布的測量

離心粒度儀可以測量其他方法難以測量的高濃度樣品，如用于噴墨打印機的未稀釋黑色顏料，并得到高精度的測量結果，所需樣品量僅為2μL。

樣品：噴墨打印機黑色顏料（未稀釋溶液）

進樣量：2uL

溶劑：蔗糖溶液

測量條件：密度梯度模式