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3D光學輪廓儀可以測量很多種材料參數(shù)
2021-6-23
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3D光學輪廓儀對各種產(chǎn)品，部件和材料的表面輪廓，粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。一句話概括就是超光滑表面（納米級）微觀形態(tài)的量度。傳統(tǒng)的機械零件由于受加工設(shè)備的限制，對精度包括平面度，粗糙度的要求常規(guī)下停留在微米量級。但隨著技術(shù)發(fā)展，人們對機械零件的加工精度要求開始向納米量級邁進，設(shè)備加工精度的提高帶動檢測技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的檢測手段包括接觸式和2D方式的檢測方法對檢測納米量級精度的...
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手持式合金分析儀在對合金材料鑒別領(lǐng)域的應用說明
2021-5-24
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手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發(fā)射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測量時必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進行直接通過接...
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高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點
2021-4-23
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高性能X射線熒光分析儀采用良好的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的性，重復性。高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點：1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X...
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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)
2021-1-25
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手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素...
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光學薄膜厚度測量儀的四大優(yōu)點和應用領(lǐng)域介紹
2020-12-25
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光學薄膜厚度測量儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產(chǎn)廠商生產(chǎn)產(chǎn)品的過程，由于誤差經(jīng)常會導致產(chǎn)品全部報廢，這時候就需要運用光學薄膜厚度測量儀來介入到生產(chǎn)環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。光學薄膜厚度測量儀的優(yōu)點：1.非接觸式測量光學薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何...
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薄膜厚度測量儀的主要功能有哪些呢？
2020-11-24
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薄膜厚度測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時候要注意以下八點：1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。2、在測量的時候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將...
